Fischer x射線測(cè)厚儀

Fischer x射線測(cè)厚儀

適合各種應(yīng)用的合適設(shè)備

和XUL系列一樣，F(xiàn)ISCHERSCOPE®X射線XAN®儀器非常適合分析簡(jiǎn)單形狀的樣品。然而，XAN系列的一大優(yōu)勢(shì)在于其高質(zhì)量的半導(dǎo)體探測(cè)器。X射線熒光不僅可以測(cè)量鍍層的厚度，還可以分析合金（例如銅）的成分。

XAN系列總共包括5款臺(tái)式XRF光譜儀，涵蓋廣泛的應(yīng)用范圍。XAN215具有經(jīng)濟(jì)高效的PIN檢測(cè)器。非常適合簡(jiǎn)單的鍍層厚度任務(wù)，例如鐵上的鋅層或Au/Ni/Cu。對(duì)于更復(fù)雜的合金或貴金屬應(yīng)用，我們建議使用帶有硅漂移檢測(cè)器SDD的設(shè)備（例如XAN220）：由于其分辨率更高，可以可靠地區(qū)分金和鉑。當(dāng)您需要檢測(cè)痕量重金屬和其他有害物質(zhì)時(shí)，XAN250是您的理想選擇。

更強(qiáng)大的性能歸功于DPP+和更大面積的硅漂移探測(cè)器

在Fischerscope XAN 220, Fischerscope XAN 222,Fischerscope  XAN 250和Fischerscope XAN 252上，您現(xiàn)在可以更高精度和更快速度完成測(cè)量。與GOLDSCOPE SD 520和SD 550，這些儀器都配備了*由Fischer自主研發(fā)的最新數(shù)字脈沖處理器DPP+。通過(guò)將新處理器與同樣新獲得的擁有更大有效面積(50 mm2)的硅漂移探測(cè)器相結(jié)合，可獲得并處理更多的信號(hào)，同時(shí)還能保證能量分辨率。因此，您的收益是：最多可縮短2/3的測(cè)量時(shí)間，或者減少絕對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差最高達(dá)45%。

駿展儀器引用*的技術(shù)和管理經(jīng)驗(yàn),建立完善的管理體系,產(chǎn)品質(zhì)量和售前和售后進(jìn)行嚴(yán)格控制,不斷提高公司的產(chǎn)品質(zhì)量和服務(wù),贏得了客戶的信任,使供應(yīng)的產(chǎn)品在篤摯主要城市的國(guó)內(nèi)和國(guó)際市場(chǎng)的快速增長(zhǎng),并獲得好評(píng)。

無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司公司擁有雄厚的資源優(yōu)勢(shì)，擁有儀器設(shè)備“選型、采購(gòu)、測(cè)量、校準(zhǔn)、操作人員培訓(xùn)、售后服務(wù)"的服務(wù)。公司銷售的儀器儀表設(shè)備，廣泛應(yīng)用于工廠、企業(yè)、測(cè)量機(jī)構(gòu)和科研機(jī)構(gòu)。