菲希爾鍍層測厚儀XDAL

菲希爾鍍層測厚儀XDAL

菲希爾x-ray射線熒光光譜鍍層材料分析儀

x射線厚度測試儀

菲希爾鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237設(shè)計(jì)理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237菲希爾鍍層測厚儀是一款界面友好的臺式測量儀器。它裝備了高精度，可編程運(yùn)行的 工作臺和電調(diào)的軸升降系統(tǒng)，是進(jìn)行自動測量的理想儀器。菲希爾鍍層測厚儀當(dāng)保護(hù)門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。通過激光光點(diǎn)，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大能，可以精-確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實(shí)時觀察測量過程和進(jìn)度。位置的精-確微調(diào)可以直接手動調(diào)整儀器或搖桿，或通過操作鼠標(biāo)和鍵盤來現(xiàn)。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì)，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。所有的操作，量數(shù)據(jù)的計(jì)算，以及測量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示都是通過強(qiáng)大而界面友好的 軟件在電腦上完成的。

菲希爾測厚儀憑借電機(jī)驅(qū)動（可選）與自上而下的測量方向，XDL系列測量儀器能夠進(jìn)行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設(shè)計(jì)上，F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL菲希爾測厚儀型儀器和XDLM型儀器相對應(yīng)。區(qū)別在于使用的探測器類型不同。在XDAL上，使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器，從而有了遠(yuǎn)好于XDLM使用的比例計(jì)數(shù)器的能量分辨率。因而，這臺儀器適合于一般材料分析，痕量元素分析及測量薄鍍層厚度。

菲希爾測厚儀X射線源是一個能產(chǎn)生很小光斑面積的微聚焦X射線管。然而，由于相對較小的探測器有效接收面積(相比較比例計(jì)數(shù)器探測器來說)，信號強(qiáng)度低，故XDAL有限適用于極微小結(jié)構(gòu)和測量點(diǎn)的測量。和XDLM類似，準(zhǔn)直器和基本濾片是可自動切換，以便為不同測量程式創(chuàng)造良好的激勵條件。FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測量空間寬大，可以用于測量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達(dá)驅(qū)動可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置z高可達(dá)140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計(jì)可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。