菲希爾X射線測厚儀FischerscopeXAN220

菲希爾X射線測厚儀FischerscopeXAN220

菲希爾測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220/222,X射線熒光測量儀，用于快速、無損分析黃金和銀合金：
X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量，菲希爾xan220菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優化的X射線熒光測量儀器，用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。菲希爾測厚儀它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯（17）到鈾（92）范圍內可同時測定多達24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。菲希爾xan220

FISCHERSCOPE XAN220產品特點：
•    菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優化設計；
•    配備固定的準直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析
•    配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復雜的多元素分析
•    由下至上的測量方向，可以zui簡便地實現樣品定位

FischerscopeXAN220菲希爾x射線測厚儀

預期用途 能量色散X射線測量儀（ED XRF）用于分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。
元素范圍 硫S（16）至鈾U（92）–同時多達24種元素
重復性 對于金≤0.5‰，測量時間60秒
設計 臺式單元，帶有向上打開的罩
測量方向 自下而上
X射線管 帶鈹窗的微焦點鎢管
高電壓 3 steps：30 kV，40 kV，50 kV;大陽極電流：1 mA
光圈（準直儀） ? 1 mm (39 mils), 可選? 2 mm (79 mils) or ? 0.6 mm (23.6 mils)
測量點 ? 1.2 mm (47 mils) with aperture ? 1 mm (39 mils)平放樣品（測量距離0毫米）

無錫駿展儀器有限責任公司起源于美國,英國,德國和其他地區的合作伙伴,與全系列的產品資源和服務,光學儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、測量工具測量工具和其他類型的測試設備,努力為客戶解決快速分析的測量技術挑戰,聯合提供定制化精密測量和性能分析系統解決方案，有效推動企業實現既定目標。