渦流相敏測(cè)厚儀測(cè)量精度受哪些因素影響
更新時(shí)間：2022-07-15 點(diǎn)擊次數(shù)：1420次
渦流相敏測(cè)厚儀采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍。
渦流相敏測(cè)厚儀測(cè)量精度受哪些因素影響：
1、基底金屬磁性法測(cè)厚受基底金屬磁性變化的影響。為了防止溶液和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試樣母材具有相同性能的標(biāo)準(zhǔn)件來(lái)校準(zhǔn)儀器。也可以使用待涂覆的試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
2、基底金屬厚度每個(gè)儀器都有基底金屬的臨界厚度。當(dāng)厚度大于此值時(shí)，測(cè)量不受母材厚度的影響。
3、邊緣效應(yīng)器對(duì)試樣外表面形狀的突變很敏感。因此，在試樣邊緣或內(nèi)角附近進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
4、曲率試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的增加而顯著增加。
母材的外表面粗糙度和護(hù)罩的外表面粗糙度水平對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增加，影響增加。粗糙的外表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。在每次測(cè)量期間，應(yīng)減少不同位置的測(cè)量次數(shù)，以抑制這種意外誤差。
6、磁場(chǎng)周?chē)鞣N電氣設(shè)施產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)將極大地干擾渦流測(cè)厚儀的使用。
7、附著物對(duì)與覆蓋層外表面緊密接觸的物質(zhì)敏感，因此有必要清除附著物，以確保儀器探頭與試件外表面直接接觸。
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