COULOSCOPE CMS2 和 CMS2 STEP：這兩款庫倫法測厚儀為臺式儀器，用于涂層厚度和電化學電位測量。當涂層厚度超過一定范圍，X 射線熒光法進行無損測量達到極限的時，COULOSCOPE® CMS2 可發揮作用，通過電解層剝離精確可靠地測量幾乎所有金屬涂層的厚度。該儀器操作簡便，具有廣泛的適用性，適用于多種涂層 - 基體組合。它還擁有近 100 種針對不同涂層系統（如鐵上鋅、黃銅上鎳等）的預定義測量任務，能實現高精度測量。此外，COULOSCOPE® CMS2 STEP 除了能進行庫倫法涂層厚度測量外，還可測量電化學電位。例如在多層鎳涂層的質量控制中，可同時測量電位差和層厚度，對于確定涂層的腐蝕行為等性能非常有幫助，適用于電鍍行業的生產監控以及成品零件的來料檢驗等場景。