菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237硬件配置

XDAL237 配備高精度比例計(jì)數(shù)管探測(cè)器，可在短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，確保重復(fù)測(cè)量精度。其微聚焦 X 射線管（鎢靶，最高 50kV/50W）結(jié)合 4 個(gè)可切換準(zhǔn)直器和 3 種基本濾片，可靈活適應(yīng)不同材料的檢測(cè)需求，最小測(cè)量點(diǎn)直徑達(dá) 0.1 毫米。設(shè)備還集成了帶變焦功能的彩色視頻攝像頭和激光指示器，支持測(cè)量點(diǎn)的快速定位與精確定位。

自動(dòng)化設(shè)計(jì)

該儀器采用可編程的 XY 軸電動(dòng)工作臺(tái)及 Z 軸升降系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)批量樣品的自動(dòng)化掃描和測(cè)量，特別適合生產(chǎn)線中的質(zhì)量控制。例如，在電子元器件檢測(cè)中，工作臺(tái)能自動(dòng)移動(dòng)至預(yù)設(shè)位置，配合電調(diào) Z 軸實(shí)現(xiàn)微米級(jí)精度的鍍層厚度分析。

測(cè)量范圍與精度

適用鍍層厚度范圍為 0.01-50μm，可檢測(cè)從鋁（Al）到鈾（U）的多種元素，滿足從超薄鍍層（如半導(dǎo)體芯片）到厚鍍層（如汽車零部件）的全場(chǎng)景需求。在珠寶行業(yè)黃金飾品檢測(cè)中，其精度可達(dá)到 ±0.01μm，滿足嚴(yán)苛的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。