菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237硬件配置

XDAL237 配備高精度比例計數管探測器，可在短時間內實現高計數率，確保重復測量精度。其微聚焦 X 射線管（鎢靶，最高 50kV/50W）結合 4 個可切換準直器和 3 種基本濾片，可靈活適應不同材料的檢測需求，最小測量點直徑達 0.1 毫米。設備還集成了帶變焦功能的彩色視頻攝像頭和激光指示器，支持測量點的快速定位與精確定位。

自動化設計

該儀器采用可編程的 XY 軸電動工作臺及 Z 軸升降系統，可實現批量樣品的自動化掃描和測量，特別適合生產線中的質量控制。例如，在電子元器件檢測中，工作臺能自動移動至預設位置，配合電調 Z 軸實現微米級精度的鍍層厚度分析。

測量范圍與精度

適用鍍層厚度范圍為 0.01-50μm，可檢測從鋁（Al）到鈾（U）的多種元素，滿足從超薄鍍層（如半導體芯片）到厚鍍層（如汽車零部件）的全場景需求。在珠寶行業黃金飾品檢測中，其精度可達到 ±0.01μm，滿足嚴苛的行業標準。