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菲希爾熒光射線測厚儀XDLM231簡介

更新時間:2025-05-16   點擊次數:211次

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設計,是用于質量控制,質量檢驗和生產監控的最合適的測量儀器。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據不同的預期用途,有不同的版本。

菲希爾XDLM 231 型的工作臺為固定式工作臺,馬達驅動的 Z 軸升降系統。

菲希爾XDLM 232 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺,馬達驅動的 Z 軸升降系統。

菲希爾XDLM 237 型則配備了馬達驅動的 X/Y 工作臺,當保護門開啟時,工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統。

菲希爾XDLM系列儀器帶有4個可切換準直器,3種可切換的基本濾片,采用比例接收器,測量距離為0-80mm。

使用高分辨率的CCD彩色攝像頭

儀器重量100kg-120kg

儀器使用時溫度范圍10℃-40℃,空氣相對濕度為≤95%,無結露

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