德國X射線熒光測厚儀，非接觸式測量工件，無損測量鍍層厚度及分析材料成分。

FISCHERSCOPE X-RAY XUL220：一款高性能、緊湊型、多用途的X射線熒光涂層厚度測量和材料分析設(shè)備。它廣泛用于無損檢測小型工件上的涂層厚度以及材料分析，尤其適用于質(zhì)量監(jiān)控、原材料檢驗(yàn)和生產(chǎn)過程控制。

其主要應(yīng)用領(lǐng)域包括：

- 對螺釘、螺栓和螺母等小部件的測量

- 連接器和電氣元件的測量

- 電鍍液溶液成分分析

XUL220的比例接收器能夠?qū)崿F(xiàn)高計(jì)數(shù)率，從而保證高精度測量。與FISCHERSCOPE X-RAY系列的其他設(shè)備一樣，該儀器具備的精確性和長期穩(wěn)定性，大幅減少了校準(zhǔn)所需的時(shí)間和精力。

借助FISCHER的基本參數(shù)法，無需校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正，即可分析固態(tài)和液態(tài)樣品的成分，并測量樣品的涂層厚度。